军工电子元器件、芯片，一次筛选、二次筛选

 

电子元器件筛选和破坏性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及时发现假冒翻新元器件的有效手段。

 

电子元器件筛选是通过一系列短期环境应加速试验及测试技术，对整批电子元器件进行全批次非破坏性试验，挑选出具有特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提高产品使用可靠性。

 

元器件筛选的目的：

 

1.剔除早起失效产品。

 

2.提高产品批次使用的可靠性。

 

元器件筛选的特点：

 

1.筛选试验为非破坏性试验。

 

2.不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。

 

3.对批次产品进行*筛选。

 

4.筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。

 

二次筛选测试项目：

 

1.检查筛选：显微镜检查、红外线破坏检查、

 

X射线非破坏性检查。

 

2.密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示

 

踪检漏、湿度试验。

 

3.环境应?筛选：振动、冲击、离?加速度、温度

 

冲击、综合应力。

 

元器件筛选覆盖范围：

 

元件类：电阻、电容、电感、敏感元件、磁性元件、滤波器、晶体振荡器。

 

器件类：光电耦合器、二极管、晶体管、集成电路。

 

机电类：继电器、开关。

 

线缆类：连接器、电线电缆。

 

广电计量从1964年开始从事计量检定工作，是原信息产业部电子602计量站，历经五十余年的技术沉淀，持续变革创新，实现跨越式发展，成为一家全国性、综合化、军民融合的国有第三方计量检测机构，专业提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军工四证”等政府和工业众多权威机构的认可资质。

 

我们的设备能力：

 

1.老炼需要的设备：

 

集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统

 

电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统

 

*立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统

 

继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统

 

二极管恒流老炼系统。

 

2.电测试需要的设备：

 

阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪

 

高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器

 

频谱分析仪。

 

3.目检、外观检查需要设备：

 

光学显微镜、金相显微镜。

 

4.理化检测能力覆盖：

 

外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。

 

覆盖标准：

 

GJB128A-97半导体分立器件试验方法

 

GJB 360A-96电子及电气元件试验方法

 

GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序

 

GJB 7243-2011军电子元器件筛选技术要求

 

GJB 40247A-2006军电子元器件破坏性物理分析方法

 

QJ 10003—2008进口元器件筛选指南

 

MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法

 

MIL-STD-883G

 

依据各行业及领域客户的需求，广电计量精心打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测、化学分析、食品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检?业信息化系统开发、测控产品研发的一站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业品质管控全过程。

 

业务联系信息：

 

张经理：186-2090+8348;

 

邮箱：zhanghp grgtest.com

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