Jandell通用四点探针系统
Multiheight Probe与我们的RM3000测试单元相结合,是迄今为止我们醉受欢迎的一套设备。
这种组合允许从带有TCO或金属层的玻璃载片,到晶片shen至深达250mm的锭块测量各
种样品。
如果要测量较高的样品,可选择较长的柱子,底座可用于测量直径达250mm的样品或直径达300mm的样品。
可以将微定位台或多定位台安装到基座上,以便能够测量小样品或晶片。
300毫米版本配备RM3000测试单元控制的自动Z轴。
英国jandel四探针主要产品及关键词:
Jandel探针
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Jandel手动探针支架
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